Hartwig Modrow
YOU?
Author Swipe
View article: Structural and X-Ray—Optical Characteristics of the W/Si Multilayer X-Ray Mirrors
Structural and X-Ray—Optical Characteristics of the W/Si Multilayer X-Ray Mirrors Open
Методами рентгеновской дифракции в жёстком ( 0,154 нм) и мягком (0,8 2,4 нм) диапазонах исследована структура и оптические свойства серии многослойных рентгеновских зеркал (МРЗ) W/Si с систематически изменяющимся периодом в диапаз…