O. Yu. Devizenko
YOU?
Author Swipe
View article: MULTILAYER TUNGSTEN/QUASI-CRYSTAL Ti-Zr-Ni SYSTEMS AS PROMISING MATERIALS OF PROTECTIVE ELEMENTS A FUSION REACTOR
MULTILAYER TUNGSTEN/QUASI-CRYSTAL Ti-Zr-Ni SYSTEMS AS PROMISING MATERIALS OF PROTECTIVE ELEMENTS A FUSION REACTOR Open
This paper presents the results of fabricating a model sample of a multilayer coating on a Al2O3 substrate, which consisted of 30 periods of alternately deposited 10.5-nm-thick layers of Ti41Zr41Ni18 and 2.5-nm-thick layers of W. The effec…
View article: Explosive Crystallization of Amorphous Cobalt Films in a Strong Nonuniform Magnetic Field
Explosive Crystallization of Amorphous Cobalt Films in a Strong Nonuniform Magnetic Field Open
Исследован механизм взрывной кристаллизации аморфных плёнок кобальта, выращенных на аморфном углероде в отсутствии и при наличии сильного неоднородного магнитного поля. Установлено, что ключевым фактором для реализации взрывной кристаллиза…
View article: Explosive Crystallization of Films of Amorphous Cobalt on a Sublayer of Carbon
Explosive Crystallization of Films of Amorphous Cobalt on a Sublayer of Carbon Open
Методами просвечивающей электронной микроскопии, электронной дифракции, малоугловой рентгеновской дифракции и вторичной ионной масс-спектрометрии исследован механизм взрывной кристаллизации аморфных плёнок кобальта, выращенных на аморфном …
View article: STRUCTURE AND PHASE COMPOSITION OF W-Si MULTILAYER X-RAY MIRRORS
STRUCTURE AND PHASE COMPOSITION OF W-Si MULTILAYER X-RAY MIRRORS Open
X-ray diffractometry in a hard region (l~0.154 nm) was used to study the phase structure, composition and construction of W/Si multilayer X-ray mirrors (MXMs) with thicknesses of tW2.7 nm, and at tW<1.9 nm they are amorphous. Using the sin…